Stell dir vor, du könntest ins Gehirn schauen, ohne es zu berühren. Forschende haben eine neue Methode entwickelt, die genau das kann.
Stell dir vor, du könntest durch eine Wand sehen, ohne sie zu berühren. Das klingt wie Zauberei, oder? Forschende haben eine ähnliche Technik für Gehirne entwickelt. Sie nutzen Magnetfelder, um Bilder von Gehirnen zu machen. Diese Methode heißt Global Maxwell Tomographie, kurz GMT. Bis jetzt war diese Technik aber nicht perfekt. Die Forschenden haben nun eine neue Version entwickelt, die viel genauer ist.
Was die Forschenden herausgefunden haben
Die neue Methode, die auf der Volumen-Oberflächen-Integralgleichung basiert, hat sich in Tests als viel genauer erwiesen. In Computersimulationen war sie mindestens 12 Prozent besser als die alte Methode. Auch in echten Experimenten mit einem Modellkopf und einem speziellen Phantom hat sie gut funktioniert. Die neuen Werte für die elektrischen Eigenschaften des Gehirns waren viel genauer.
Wie haben sie das gemacht?
Die Forschenden haben eine spezielle Spulenanordnung für die Magnetresonanztomographie (MRT) entwickelt. Diese Spulen senden und empfangen Magnetfelder, um Bilder zu erstellen. Sie haben dann ein realistisches Modell eines Kopfes verwendet, um die elektrischen Eigenschaften zu messen. Dabei haben sie die Spulenströme bei jeder Messung neu berechnet, um genauere Bilder zu bekommen.
Warum ist das wichtig?
Diese neue Methode ist wichtig, weil sie genauere Bilder von Gehirnen liefert. Das kann Ärzten helfen, Krankheiten besser zu erkennen und zu behandeln. Zum Beispiel können sie sehen, wie sich das Gehirn bei bestimmten Krankheiten verändert. Das hilft ihnen, bessere Therapien zu entwickeln.
Du willst mehr über die Studie wissen?
Die Forschenden, die diese neue Methode entwickelt haben, heißen Ilias Giannakopoulos, José E. Cruz Serrallés, Jan Paška, Martijn A. Cloos, Ryan Brown und Riccardo Lattanzi. Der Artikel wurde im Jahr 2025 veröffentlicht. Der Titel des Artikels lautet „Global Maxwell Tomography Using the Volume-Surface Integral Equation for Improved Estimation of Electrical Properties“.